Testing Semiconductor Products Using Low-Frequency Noise Parameters

被引：0

作者：

M. I. Gorlov

V. A. Sergeev

机构：

[1] Voronezh State Technical University,

[2] Ulyanovsk Branch,undefined

[3] Kotel’nikov Institute of Radio-Engineering and Electronics,undefined

[4] Russian Academy of Sciences,undefined

[5] Ulyanovsk State Technical University,undefined

来源：

Russian Journal of Nondestructive Testing | 2022年 / 58卷

关键词：

integrated circuit; quality; reliability; low-frequency noise; diagnostics; prediction;

D O I：

暂无

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学科分类号：

摘要：

引用

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