Electron transport in ballistic electron emission microscopy

被引：0

作者：

R. Menegozzi

P.-G. Reinhard

M. Schulz

机构：

[1] Institut für Angewandte Physik,

[2] Universität Erlangen-Nürnberg,undefined

[3] Staudtstr. 7,undefined

[4] D-91058 Erlangen,undefined

[5] Germany,undefined

[6] Institut für Theoretische Physik II,undefined

[7] Universität Erlangen-Nürnberg,undefined

[8] Staudtstr. 7,undefined

[9] D-91058 Erlangen,undefined

[10] Germany (Fax: +49-9131/858423,undefined

[11] E-mail: mpap01@rzmail.uni-erlangen.de),undefined

来源：

Applied Physics A | 1998年 / 66卷

关键词：

PACS: 73.50.-h; 07.79.-v;

D O I：

暂无

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

页码：S897 / S900