Test Technology Newsletter[inline-graphic not available: see fulltext] The Newsletter of the Test Technology Technical Council of the IEEE Computer Society [inline-graphic not available: see fulltext]

被引：0

作者：

Bruce C. Kim

机构：

[1] University of Alabama,Department of Electrical and Computer Engineering

来源：

Journal of Electronic Testing | 2007年 / 23卷 / 1期

关键词：

D O I：

10.1007/s10836-006-0752-4

中图分类号：

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