Structural study of sputtered nanocrystalline Ti and Zr by X-ray diffraction

被引：0

作者：

Shi, WZ ^{[1
]}

Yao, RH ^{[1
]}

Lin, KX ^{[1
]}

Lin, XY ^{[1
]}

机构：

[1] Shantou Univ, Dept Phys, Shantou 515063, Peoples R China

来源：

CHINESE SCIENCE BULLETIN | 1997年 / 42卷 / 22期

关键词：

nanocrystalline Ti and Zr; structure; X-ray diffraction;

D O I：

10.1007/BF02882781

中图分类号：

O [数理科学和化学]; P [天文学、地球科学]; Q [生物科学]; N [自然科学总论];

学科分类号：

07 ; 0710 ; 09 ;

摘要：

[No abstract available]

引用

页码：1880 / 1883

页数：4