Measuring defect depths by thermal-wave imaging

被引：4

作者：

Favro, LD ^{[1
]}

Han, XY ^{[1
]}

Kuo, PK ^{[1
]}

Thomas, RL ^{[1
]}

机构：

[1] WAYNE STATE UNIV,DEPT PHYS,DETROIT,MI 48202

来源：

THERMOSENSE XVIII: AN INTERNATIONAL CONFERENCE ON THERMAL SENSING AND IMAGING DIAGNOSTIC APPLICATIONS | 1996年 / 2766卷

关键词：

thermal wave imaging; nondestructive evaluation;

D O I：

10.1117/12.235380

中图分类号：

TU [建筑科学];

学科分类号：

0813 ;

摘要：

引用

页码：236 / 239

页数：4