Porous silicon properties investigated by IR and UV-VIS spectrometry

被引：0

作者：

Craciun, G ^{[1
]}

Bercu, M ^{[1
]}

Marica, L ^{[1
]}

Bercu, C ^{[1
]}

Dafinei, A ^{[1
]}

Flueraru, C ^{[1
]}

Grecu, VV ^{[1
]}

机构：

[1] INST MICROTECHNOL,BUCHAREST 72225,ROMANIA

来源：

CAS '96 PROCEEDINGS - 1996 INTERNATIONAL SEMICONDUCTOR CONFERENCE, 19TH EDITION, VOLS 1 AND 2 | 1996年

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页数：4