Investigation of stress singularity fields and stress intensity factors for cracks

被引:0
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作者
Amagai, M [1 ]
机构
[1] TEXAS INSTRUMENTS JAPAN,NEW PACKAGE DEV DEPT,OITA 87915,JAPAN
来源
1996 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS PROCEEDINGS, 34TH ANNUAL | 1996年
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页数:2
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