Sample Extractor for Serial Crystallography at XFELs and Synchrotron sources

被引：0

作者：

Mathews, Irimpan ^{[1
]}

Cohen, Aina ^{[1
]}

Lyubimov, Artem ^{[1
]}

Soltis, Michael ^{[1
]}

机构：

[1] Stanford Univ, SLAC, Menlo Pk, CA USA

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2017年 / 73卷

关键词：

XFEL; Serial Crystallography; Sample Delivery;

D O I：

10.1107/S2053273317092592

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

MS023.O02

引用

页码：C314 / C314

页数：1