Managing the metrology system, 2nd edition

被引：0

作者：

Pokrop, F ^{[1
]}

机构：

[1] Abbott Labs, Abbott Pk, IL 60064 USA

来源：

QUALITY PROGRESS | 1998年 / 31卷 / 06期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

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共 1 条

[1]

PENNELLA CR, 1997, MANAGING METROLOGY S