首页
学术期刊
论文检测
AIGC检测
热点
更多
数据
Electrical activation process of C implanted semi-insulating GaAs
被引:0
作者
:
Kuriyama, K
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
Kuriyama, K
[
1
]
Kato, T
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
Kato, T
[
1
]
Tomizawa, K
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
Tomizawa, K
[
1
]
Takahashi, Y
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
Takahashi, Y
[
1
]
Aoki, Y
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
Aoki, Y
[
1
]
Takeshita, H
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
Takeshita, H
[
1
]
Yamamoto, S
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
Yamamoto, S
[
1
]
Naramoto, H
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
Naramoto, H
[
1
]
机构
:
[1]
HOSEI UNIV,COLL ENGN,KOGANEI,TOKYO 184,JAPAN
来源
:
ION BEAM MODIFICATION OF MATERIALS
|
1996年
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:878 / 881
页数:4
相关论文
未找到相关数据
未找到相关数据