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Fractography of high-copper amalgams after low-cycle creep-fatigue.
被引：0
作者：
Mitchell, RJ
[1
]
Shearer, JB
[1
]
机构：
[1] Univ Kentucky, Coll Dent, Lexington, KY USA
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
R78 [口腔科学];
学科分类号：
1003 ;
摘要：
114
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