EMV testing of aircraft: A comparison of the mode-stirred and standard methods

被引：0

作者：

Kempf, DR ^{[1
]}

机构：

[1] USN,AIR WARFARE CTR,AIRCRAFT DIV,PATUXENT RIVER,MD

来源：

IEEE 1996 INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY - EMC: SILICON TO SYSTEMS, SYMPOSIUM RECORD | 1996年

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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