Low power, testable dual edge triggered flip-flops

被引：0

作者：

Llopis, RP ^{[1
]}

Sachdev, M ^{[1
]}

机构：

[1] PHILIPS RES LABS,NL-5656 AA EINDHOVEN,NETHERLANDS

来源：

1996 INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON LOW POWER ELECTRONICS AND DESIGN - DIGEST OF TECHNICAL PAPERS | 1996年

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：341 / 345

页数：5