Eigenfeatures for planar pose measurement of partially occluded objects

被引：18

作者：

Krumm, J ^{[1
]}

机构：

[1] SANDIA NATL LABS,INTELLIGENT SYST & ROBOT CTR,ALBUQUERQUE,NM 87185

来源：

1996 IEEE COMPUTER SOCIETY CONFERENCE ON COMPUTER VISION AND PATTERN RECOGNITION, PROCEEDINGS | 1996年

关键词：

D O I：

10.1109/CVPR.1996.517053

中图分类号：

TP18 [人工智能理论];

学科分类号：

081104 ; 0812 ; 0835 ; 1405 ;

摘要：

引用

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