Physical properties and optical recording performance of In47Sb14Te39 phase change thin films using 514.5 nm wavelength laser beam

被引：0

作者：

Men, LQ ^{[1
]}

Jiang, RS ^{[1
]}

Liu, C ^{[1
]}

Liu, HY ^{[1
]}

Gan, FX ^{[1
]}

机构：

[1] ACAD SINICA,SHANGHAI INST OPT & FINE MECH,SHANGHAI 201800,PEOPLES R CHINA

来源：

OPTICAL RECORDING, STORAGE, AND RETRIEVAL SYSTEMS | 1996年 / 2890卷

关键词：

phase change materials; short-wavelength recording; optical storage; DSC; X-ray diffraction;

D O I：

暂无

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

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