Incorporating scanning probe microscopy into the undergraduate chemistry curriculum

被引：20

作者：

Lehmpuhl, DW ^{[1
]}

机构：

[1] Univ So Colorado, Pueblo, CO 81001 USA

来源：

JOURNAL OF CHEMICAL EDUCATION | 2003年 / 80卷 / 05期

关键词：

Atomic force microscopy - Crystal structure - Curricula - Etching - Nanotechnology - Research laboratories - Salts - Scanning tunneling microscopy - Students;

D O I：

10.1021/ed080p478

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

[No abstract available]

引用

页码：478 / 479

页数：2