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Dry etching of InGaP and AlInP in CH4/H-2/Ar
被引:0
作者
:
Lee, JW
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机构:
UNIV FLORIDA,GAINESVILLE,FL 32611
UNIV FLORIDA,GAINESVILLE,FL 32611
Lee, JW
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Pearton, SJ
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h-index:
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UNIV FLORIDA,GAINESVILLE,FL 32611
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Pearton, SJ
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Santana, CJ
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0
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0
h-index:
0
机构:
UNIV FLORIDA,GAINESVILLE,FL 32611
UNIV FLORIDA,GAINESVILLE,FL 32611
Santana, CJ
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Lambers, ES
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0
h-index:
0
机构:
UNIV FLORIDA,GAINESVILLE,FL 32611
UNIV FLORIDA,GAINESVILLE,FL 32611
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Abernathy, CR
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
UNIV FLORIDA,GAINESVILLE,FL 32611
UNIV FLORIDA,GAINESVILLE,FL 32611
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Hobson, WS
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0
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0
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0
机构:
UNIV FLORIDA,GAINESVILLE,FL 32611
UNIV FLORIDA,GAINESVILLE,FL 32611
Hobson, WS
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Ren, F
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
UNIV FLORIDA,GAINESVILLE,FL 32611
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Ren, F
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机构
:
[1]
UNIV FLORIDA,GAINESVILLE,FL 32611
来源
:
COMPOUND SEMICONDUCTOR ELECTRONICS AND PHOTONICS
|
1996年
/ 421卷
关键词
:
D O I
:
10.1557/PROC-421-315
中图分类号
:
T [工业技术];
学科分类号
:
08 ;
摘要
:
引用
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页码:315 / 320
页数:6
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