A non-destructive deep interface characterization technique for multilayer films

被引：0

作者：

Gorgoi, M.

Karis, O.

Svensson, S.

Oehrwall, G.

Andersson, G.

Marcellini, M.

Martensson, N.

Olovsson, W.

Holmstroem, E.

Abrikosov, I. A.

Niklasson, A. M. N.

Johansson, B.

Braun, W.

Bressler, P.

Schaefers, E.

Eberhardt, W.

机构：

[1] BESSY, D-12489 Berlin, Germany

[2] Uppsala Univ, Dept Phys, S-75121 Uppsala, Sweden

[3] Div Theoret, Los Alamos Natl Lab, Los Alamos, NM 87545 USA

[4] Kyoto Univ, Dept Mat Sci & Engn, Kyoto 6068501, Japan

[5] Linkoping Univ, Dept Phys & Measurement Technol, S-58183 Linkoping, Sweden

来源：

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

O433 [光谱学];

学科分类号：

0703 ; 070302 ;

摘要：

引用

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