Yield Ramp up by Scan Chain Diagnosis

被引：5

作者：

Kuo, Feng-Ming ^{[1
]}

Chen, Yuan-Shih ^{[1
]}

机构：

[1] Taiwan Semicond Mfg Co, Hsinchu 30077, Taiwan

来源：

2009 ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS | 2009年

关键词：

D O I：

10.1109/ATS.2009.70

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

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[1]

HUANG Y, SCAN CHAIN DIAGNOSIS