Why defects escape some of our tests

被引：0

作者：

McCluskey, EJ ^{[1
]}

机构：

[1] Stanford Univ, Ctr Reliable Comp, Stanford, CA 94305 USA

来源：

INTERNATIONAL TEST CONFERENCE 2000, PROCEEDINGS | 2000年

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TP301 [理论、方法];

学科分类号：

081202 ;

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[1]

LI JCM, 2000, P 2000 INT TEST C AT

[2]

MCCLUSKEY EJ, 2000, P 2000 INT TEST C AT