ABERRATION CORRECTED TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY

被引：0

作者：

Walther, Thomas ^{[1
]}

Dunin-Borkowski, Rafal E. ^{[2
]}

Rouviere, Jean-Luc ^{[3
]}

Stach, Eric A. ^{[4
]}

机构：

[1] Univ Sheffield, Sheffield S10 2TN, S Yorkshire, England

[2] Res Ctr Julich, Julich, Germany

[3] CEA Grenoble, F-38054 Grenoble, France

[4] Brookhaven Natl Lab, Upton, NY 11973 USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1557/jmr.2017.74

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：911 / 911

页数：1