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数据
Fundamentals, applications and hazards
被引:0
作者
:
Jones, TB
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
Univ Rochester, Dept Elect Engn, Rochester, NY 14627 USA
Univ Rochester, Dept Elect Engn, Rochester, NY 14627 USA
Jones, TB
[
1
]
机构
:
[1]
Univ Rochester, Dept Elect Engn, Rochester, NY 14627 USA
来源
:
JOURNAL OF ELECTROSTATICS
|
1997年
/ 42卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
10.1016/S0304-3886(97)82068-2
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:241 / 242
页数:2
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