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Special Issue A Selection of Papers Presented at the 13th Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods, Goteborg, Sweden, 15-19 June 2009 Preface
被引：0
作者：
Boman, Johan
[1
]
机构：
[1] Univ Gothenburg, Dept Chem, SE-41296 Gothenburg, Sweden
关键词：
D O I：
10.1016/j.sab.2010.05.001
中图分类号：
O433 [光谱学];
学科分类号：
0703 ;
070302 ;
摘要：
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页码：427 / 428
页数：2
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