Laser-induced damage threshold is measured for CMOS, CCD, and digital-micromirror devices

被引：0
作者：
不详
机构：
来源：
LASER FOCUS WORLD | 2018年 / 54卷 / 07期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O43 [光学];
学科分类号：
070207 ; 0803 ;
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共 1 条
[1]   Laser-induced damage threshold of camera sensors and micro-optoelectromechanical systems [J].
Schwarz, Bastian ;
Ritt, Gunnar ;
Koerber, Michael ;
Eberle, Bernd .
OPTICAL ENGINEERING, 2017, 56 (03)
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