11TH INTERNATIONAL SCANNING PROBE MICROSCOPY CONFERENCE MADRID, SPAIN, JUNE 17-19, 2009 Preface

被引：0

作者：

Garcia, Ricardo ^{[1
]}

Herruzo, Elena T. ^{[1
]}

机构：

[1] CSIC, Inst Microelect Madrid, Tres Cantos 28760, Spain

来源：

ULTRAMICROSCOPY | 2010年 / 110卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1016/j.ultramic.2010.02.011

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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