Closure to "Structural Damage Detection from Wavelet Coefficient Sensitivity with Model Errors" by S. S. Law, X. Y. Li, and Z. R. Lu

被引：1

作者：

Law, S. S. ^{[1
]}

Li, X. Y.

Lu, Z. R. ^{[2
]}

机构：

[1] Hong Kong Polytech Univ, Dept Civil & Struct Engn, Hong Kong, Hong Kong, Peoples R China

[2] Sun Yat Sen Univ, Sch Engn, Guangzhou 510275, Guangdong, Peoples R China

来源：

关键词：

Compendex;

D O I：

10.1061/(ASCE)0733-9399(2010)136:2(260.2)

中图分类号：

TH [机械、仪表工业];

学科分类号：

0802 ;

摘要：

引用

页码：260 / +

页数：2

共 2 条