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TERAHERTZ IMAGING Revealing hidden defects
被引：124
作者：
Duling, Irl
[1
]
Zimdars, David
[1
]
机构：
[1] Picometrix LLC, Ann Arbor, MI 48104 USA
来源：
关键词：
D O I：
10.1038/nphoton.2009.206
中图分类号：
O43 [光学];
学科分类号：
070207 ;
0803 ;
摘要：
[No abstract available]
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