Electric-Field Gradients derived from CCD X-ray Diffraction Data in Silicates: the cases of 27Al in Al2SiO5 Polymorphs and 25Mg in Mg2SiO4 Forsterite

被引：0

作者：

Ghermani, N. E. ^{[1
]}

Dahaoui, S. ^{[1
]}

Ghose, S. ^{[2
]}

Howard, J. A. K. ^{[3
]}

机构：

[1] Univ Nancy 1, Fac Sci, Lab Cristallog & Modelisat Mat Mineraux & Biol, UPRES A,CNRS 7036, F-54506 Vandoeuvre Les Nancy, France

[2] Univ Washington, Dept Geol Sci, Mineral Phys Grp, Seattle, WA 98195 USA

[3] Univ Durham, Dept Chem, Crystallog Grp, Durham DH1 3LE, England

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2000年 / 56卷

关键词：

EFG; CCD; silicates;

D O I：

10.1107/S010876730002763X

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

s11.m1.p12

引用

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页数：1