Analysis of visual field defects with neural networks.

被引：0

作者：

Anton, A

Maquet, JA

Reyes, M

Pastor, JC

机构：

[1] UNIV VALLADOLID,INST OFTALMOBIOL APLICADA,E-47002 VALLADOLID,SPAIN

[2] UNIV AUTONOMA BARCELONA,CTR NACL MICROELECT,E-08193 BARCELONA,SPAIN

来源：

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

R77 [眼科学];

学科分类号：

100212 ;

摘要：

引用

页码：2677 / 2677

页数：1