Quantitative Auger Electron Spectroscopy Analysis of Hg1-x Cd x Te (vol 43, pg 1255, 2014)

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作者
Gaucher, A. [1 ]
Martinez, E. [1 ]
Baylet, J. [1 ]
Cardinaud, C. [2 ]
机构
[1] CEA LETI, F-38054 Grenoble 9, France
[2] Univ Nantes, Inst Mat Jean Rouxel IMN, CNRS, F-44322 Nantes 3, France
关键词
D O I
10.1007/s11664-014-3158-6
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
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共 1 条
[1]   Quantitative Auger Electron Spectroscopic Analysis of Hg1-x Cd x Te [J].
Gaucher, A. ;
Martinez, E. ;
Baylet, J. ;
Cardinaud, C. .
JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS, 2014, 43 (04) :1255-1262