Determination of Composition and strain Field of Nanostructured Semiconductor Materials.

被引：0

作者：

Neumann, W. ^{[1
]}

Kirmse, H. ^{[1
]}

Haeusler, I. ^{[1
]}

Otto, R. ^{[1
]}

Haehnert, I. ^{[1
]}

机构：

[1] Humboldt Univ, Inst Phys, Chair Crystallog, D-12489 Berlin, Germany

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2004年 / 60卷

关键词：

Semiconductors; Quantum Structures; Transmission Electron Microscopy;

D O I：

10.1107/S0108767304098514

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

s8.m28.o1

引用

页码：S75 / S75

页数：1

共 4 条

[1] Electron microscopy of nanostructured semiconductor materials [J].

Neumann, W .

[2]

Rosenauer A, 1996, OPTIK, V102, P63

[3] Composition evaluation by lattice fringe analysis [J].

Rosenauer, A ;

Fischer, U ;

Gerthsen, D ;

Förster, A .

Tillmann, K ;

Luysberg, A ;

Specht, P ;

Weber, ER .