DHS1100-a new high temperature attachment for 4-circle x-ray goniometers

被引：3

作者：

Kotnik, P. ^{[1
]}

Hofbauer, P. ^{[1
]}

Resel, R. ^{[2
]}

Koini, M. ^{[2
]}

Haber, T. ^{[2
]}

Keckes, J. ^{[3
,4
]}

机构：

[1] Anton Paar GmbH, Graz, Austria

[2] Graz Univ Technol, Inst Solid State Phys, Graz, Austria

[3] Univ Leoben, Erich Schmid Inst, Leoben, Austria

[4] Univ Leoben, Inst Met Phys, Leoben, Austria

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2006年 / 62卷

关键词：

high-temperature X-ray diffraction; thin-film characterization; texture and stress analysis;

D O I：

10.1107/S010876730609684X

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

m10.p03

引用

页码：S158 / S158

页数：1