Illuminating the Role of Brightness in X-ray Diffraction

被引：1

作者：

Seijbel, Leon J. ^{[1
]}

Storm, Arjen B. ^{[1
]}

机构：

[1] Bruker AXS BV, NL-2600 AV Delft, Netherlands

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2005年 / 61卷

关键词：

intensity measurement; brightness; X-ray optics;

D O I：

10.1107/S0108767305094298

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

P.01.01.2

引用

页码：C135 / C135

页数：1