Edge-On Silicon Photon-Counting CT: Assessment of Diagnostic Value in a Virtual Imaging Trial

被引：0

作者：

Panta, R. ^{[1
]}

Bhattarai, M. ^{[2
]}

Yin, Z. ^{[3
]}

Abadi, E. ^{[2
]}

Segars, P. ^{[2
]}

Samei, E. ^{[4
]}

机构：

[1] Duke Univ, Med Ctr, Durham, NC USA

[2] Duke Univ, Durham, NC USA

[3] GE Healthcare, Waukesha, WI USA

[4] Duke Univ Hlth Syst, Durham, NC USA

来源：

基金：

美国国家卫生研究院;

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

R8 [特种医学]; R445 [影像诊断学];

学科分类号：

1002 ; 100207 ; 1009 ;

摘要：

TH-D-201-0

引用

页码：E591 / E592

页数：2