RETRACTION: A review on modeling and analysis of accelerated degradation data for reliability assessment (Retraction of Vol 107, art no 113602, 2020)

被引：0

作者：

Pang, Zhenan ^{[1
]}

Si, XiaoSheng ^{[1
]}

Hu, Changhua ^{[1
]}

Zhang, Jianxun ^{[1
]}

Pei, Hong ^{[1
]}

机构：

[1] Xian Inst High Tech, Xian 710025, Shaanxi, Peoples R China

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/j.microrel.2020.113960

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页数：1