QUANTITATIVE REFINEMENT OF NANOSTRUCTURES WITH X-RAY PRECISION BY HREM : A DREAM?

被引：0

作者：

Van Dyck, D. ^{[1
]}

机构：

[1] Univ Antwerp, Phys, B-2020 Antwerp, Belgium

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2002年 / 58卷

关键词：

HIGH RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPY; QUANTITATIVE STRUCTURE REFINEMENTCROSCOPYTRONMICROSCOPY; QUANTITATIVE;

D O I：

10.1107/S0108767302095090

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

引用

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页数：1