Hole and Electron Doping in Bi1-xCaxMnO3 (0≤x≤1) Investigated by Neutron and Synchrotron X-Ray Diffraction

被引：0

作者：

Garcia-Munoz, J. L. ^{[1
]}

Aranda, M. A. G. ^{[2
]}

LLobet, A. ^{[1
,3
]}

Frontera, C. ^{[1
]}

Alonso, J. A. ^{[4
]}

Ritter, C. ^{[5
]}

机构：

[1] CSIC, Inst Ciencia Mat Barcelona, Barcelona, Spain

[2] Univ Malaga, Dept Quim Inorgan Cristalog & Mineral, Malaga, Spain

[3] CNRS, Lab Louis Neel, Grenoble, France

[4] CSIC, Inst Ciencia Mat Madrid, Madrid, Spain

[5] Inst Laue Langevin, Grenoble, France

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2000年 / 56卷

关键词：

instrumentation; neutron diffraction;

D O I：

10.1107/S0108767300022194

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

s7'.m1.o5

引用

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页数：1