Interfacial diffusion studies in Co-Pd layered films

被引：10

作者：

Baker, AM ^{[1
]}

Cerezo, A ^{[1
]}

PetfordLong, AK ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV OXFORD,DEPT MAT,OXFORD OX1 3PH,ENGLAND

来源：

JOURNAL OF MAGNETISM AND MAGNETIC MATERIALS | 1996年 / 156卷 / 1-3期

基金：

英国工程与自然科学研究理事会;

关键词：

D O I：

10.1016/0304-8853(95)00797-0

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

Position-sensitive atom probe microanalysis has been used to study diffusion in Co-Pd bilayers and multilayer films. Diffusion coefficients have been determined and the effect of grain boundaries on diffusion rates have been assessed.

引用

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