In-situ High Temperature Microstructural Transformations of Oxide Epitaxial Thin Films

被引：0

作者：

Guinebretiere, Rene ^{[1
]}

Bachelet, R. ^{[1
]}

Boulle, A. ^{[1
]}

Thomas, P. ^{[1
]}

机构：

[1] CNRS, UMR 6638, ENSCI, SPCTS, F-87065 Limoges, France

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2005年 / 61卷

关键词：

X-ray diffraction; thin films; oxide;

D O I：

10.1107/S0108767305096339

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

MS67.28.3

引用

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页数：1