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Development and reliability of the SIGMA: A structured interview guide for the Montgomery-Asberg Depression Rating Scale
被引：0
作者：
Williams, Janet B.
[1
]
Kobak, Kenneth A.
[1
]
机构：
[1] Columbia Univ, New York, NY USA
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
Q189 [神经科学];
学科分类号：
071006 ;
摘要：
引用
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页码：S165 / S166
页数：2
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