Evaluation of uncertainty of measurement of shadow mask dot pitch using different approaches (vol 40, pg 2428, 2018)

被引：0
作者：
Moona, G.
Sharma, R.
Kumar, H.
机构：
来源：
TRANSACTIONS OF THE INSTITUTE OF MEASUREMENT AND CONTROL | 2019年 / 41卷 / 13期
关键词：
D O I：
10.1177/0142331217722111
中图分类号：
TP [自动化技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
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