共 1 条
Changes in elastic deformation of strained si by microfabrication (vol 8, pg 181, 2005)
被引:1
作者:
Arimoto, K
Furukawa, D
Yamanaka, J
Nakagawa, K
Sawano, K
Koh, S
Shiraki, Y
Usami, N
机构:
[1] Univ Yamanashi, Ctr Crystal Sci & Technol, Yamanashi 4008511, Japan
[2] Univ Tokyo, Dept Appl Phys, Bunkyo Ku, Tokyo 1138656, Japan
[3] Tohoku Univ, Inst Mat Res, Aoba Ku, Sendai, Miyagi 9808577, Japan
关键词:
D O I:
10.1016/j.mssp.2006.04.002
中图分类号:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号:
0808 ;
0809 ;
摘要:
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页数:1
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