Some remarks on the paper Optimization of S:Sn precursor molar concentration on the physical properties of spray deposited single phase Sn2S3 thin films" by J. Srivind, VS Nagaretthinam, AR Balu [Mater. Sci.-Poland, 34 (2016), 393-398]

被引：0

作者：

Tomaszewski, Pawel E. ^{[1
]}

机构：

[1] Polish Acad Sci, Inst Low Temp & Struct Res, P 1410, PL-50950 Wroclaw, Poland

来源：

MATERIALS SCIENCE-POLAND | 2020年 / 38卷 / 03期

关键词：

X-ray diffraction; thin films; errors; Sn2S3;

D O I：

10.2478/msp-2018-0101

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：400 / 401

页数：3