Guest editors' introduction: Defect-oriented testing in the deep-submicron era

被引：0

作者：

Segura, J

Maxwell, P

机构：

[1] Univ Illes Balears, Palma de Mallorca 07071, Spain

[2] Agilent Technol, Semicond Prod Grp, Santa Clara, CA 95051 USA

来源：

IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 2002年 / 19卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1109/MDT.2002.1033786

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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