NANOMETROLOGY NIST scatterfield imaging 'sees' nanometer-scale features

被引：0
作者：
Overton, Gail
机构：
来源：
LASER FOCUS WORLD | 2016年 / 52卷 / 01期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O43 [光学];
学科分类号：
070207 ; 0803 ;
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共 1 条
[1]   Deep subwavelength nanometric image reconstruction using Fourier domain optical normalization [J].
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