Robot-guided metrology due to intelligent image processing

被引：0

作者：

Pfeifer, T ^{[1
]}

Mönning, F ^{[1
]}

机构：

[1] Rhein Westfal TH Aachen, WZL, LS Fertigungsmesstech & Qualitatsmanagement, D-52056 Aachen, Germany

来源：

SENSORS AND MEASURING SYSTEMS 2004 | 2004年 / 1829卷

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：333 / 340

页数：8