Characterization of Zinc Oxide thin films grown on different substrates

被引：0

作者：

Sbarcea, Beatrice G. ^{[1
]}

Paraschiv, Carmen ^{[1
]}

Patroi, Delia ^{[1
]}

Marinescu, Virgil E. ^{[1
]}

Mitrea, Sorina A. ^{[1
]}

机构：

[1] Natl Inst R&D Elect Engn ICPE CA, Bucharest, Romania

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2015年 / 71卷

关键词：

ZnO; X-ray diffraction; PLD;

D O I：

10.1107/S2053273315092360

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

MS43-P6

引用

页码：S517 / S517

页数：1