Characterization of Profiled LiNbO3 and SBN Crystals by X-ray Diffraction

被引：0

作者：

Ivleva, Liudmila ^{[1
]}

Voronov, V. ^{[1
]}

Samoylovitch, M. ^{[2
]}

机构：

[1] Russian Acad Sci, Gen Phys Inst, Moscow, Russia

[2] Technomash, Moscow, Russia

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES | 2005年 / 61卷

关键词：

Stepanov technique; X-ray topography; crystal defects;

D O I：

10.1107/S0108767305081432

中图分类号：

O6 [化学];

学科分类号：

0703 ;

摘要：

P.16.04.6

引用

页码：C441 / C442

页数：2