Computer simulated HeI Stark broadened line profiles for plasma diagnostics

被引:0
作者
Gigosos, MA [1 ]
González, MA
机构
[1] Univ Valladolid, Dept Opt, Fac Ciencias, E-47071 Valladolid, Spain
[2] Univ Valladolid, Dept Fis Aplicada, ETSI Informat, E-47071 Valladolid, Spain
来源
LIGHT SOURCES 2004 | 2004年 / 182期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
O43 [光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
摘要
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页数:2
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