Risk Factors for Poor Cognitive Outcomes after Critical Illness

被引:0
作者
Girard, T. D. [1 ,2 ]
Jackson, J. C. [1 ,2 ]
Pandharipande, P. P. [1 ,2 ]
Thompson, J. L. [1 ]
Shintani, A. K. [1 ]
Ely, E. W. [1 ,2 ]
机构
[1] Vanderbilt Univ, Sch Med, Nashville, TN 37212 USA
[2] VA Tennessee Valley Healthcare Syst, Nashville, TN USA
关键词
D O I
暂无
中图分类号
R592 [老年病学]; C [社会科学总论];
学科分类号
03 ; 0303 ; 100203 ;
摘要
引用
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页码:S105 / S106
页数:2
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