Risk Factors for Poor Cognitive Outcomes after Critical Illness

被引：0

作者：

Girard, T. D. ^{[1
,2
]}

Jackson, J. C. ^{[1
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]}

Pandharipande, P. P. ^{[1
,2
]}

Thompson, J. L. ^{[1
]}

Shintani, A. K. ^{[1
]}

Ely, E. W. ^{[1
,2
]}

机构：

[1] Vanderbilt Univ, Sch Med, Nashville, TN 37212 USA

[2] VA Tennessee Valley Healthcare Syst, Nashville, TN USA

来源：

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

R592 [老年病学]; C [社会科学总论];

学科分类号：

03 ; 0303 ; 100203 ;

摘要：

引用

页码：S105 / S106

页数：2